美國HVI美高測 TD-65E超低頻耐壓測試儀
簡要描述：美國HVI美高測 TD-65E超低頻耐壓測試儀 本產(chǎn)品適用于額定電壓 35kV 電纜的介損電橋診斷測試.現(xiàn)在熱賣中，如需購買，可通過客服熱線聯(lián)系我們!
產(chǎn)品型號：- 廠商性質：代理商
- 更新時間：2025-05-07
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產(chǎn)品詳情
美國HVI美高測 TD-65E超低頻耐壓測試儀 本產(chǎn)品適用于額定電壓 35kV 電纜的介損電橋診斷測試.現(xiàn)在熱賣中，如需購買，可通過客服熱線聯(lián)系我們!
美國HVI美高測 TD-65E超低頻耐壓測試儀簡介：
TD-65E 介損電橋設計用于通過 XBee 協(xié)議與 VLF-34E 或 VLF-65E 進行無線通信并協(xié)同工作，以形成一個完整的電纜診斷系統(tǒng)。該系統(tǒng)具備*端功能，如無線通信、數(shù)據(jù)采集，并且可使用隨附的 E-Link PC 軟件生成報告。它旨在按照世界標準（IEEE 400、IEEE 400.2、IEEE 433、DIN VDE 0276、CENELEC HD620 S1、NEETRAC CDFI 等），對 5 至 35kV 的一次電纜進行介損（Tan Delta，也稱為 Tan δ、損耗因數(shù)或損耗角）測試。介損測試是一種非破壞性診斷測試，用于測量屏蔽中壓 / 高壓電纜絕緣的劣化程度。測試結果能夠揭示絕緣層的污染、損壞情況或水樹分布狀況。介損測試是在停電電纜上進行的離線測試，使用交流電源，在本案例中是使用非常低頻（0.1Hz）的高壓發(fā)生器為電纜提供測試電壓，同時介損電橋記錄測試結果。測試過程中會逐步升高測試電壓，并監(jiān)測讀數(shù)，以避免在介損數(shù)值表明電纜嚴重劣化時可能出現(xiàn)的電纜故障。
技術參數(shù)：
